Medida de la inteligencia : método para el empleo de las pruebas de Stanford-Binet nuevamente revisadas / Lewis M. Terman, Maud A. Merrill
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TextoDetalles de publicación: Madrid : Espasa-Calpe, 1954.Edición: 1ª edDescripción: xxviii, 506 p. : gráfsTema(s):
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